PSS衬底片反射率测量及分类机 首页 > 晶片/外延片/衬底片测量设备

PSS衬底片反射率测量及分类机可在线快速检测PSS衬底片刻蚀前和刻蚀后的反射率(PR)数据,生成高分辨率的Mapping图,可为衬底片刻蚀工艺控制提供可靠的数据。

友情链接: 中国半导体照明网 北京中拓机械集团有限责任公司

北京中拓光电科技有限公司 版权所有 京ICP备12019144号-2