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产品介绍
晶片膜厚自动测量及分类机
多种解决方案实现多种材料,多层材料的表面薄膜厚度及微区薄膜厚度的自动测量。
不同波长下干涉谱测量膜厚的配置方案
膜厚干涉原理 白光干涉谱
膜厚测量模块 显微膜厚测量模块
中红外光源 中红外光谱仪